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无掩膜光刻,中国团队发布新决策


发布日期:2024-11-03 09:35    点击次数:150


(原标题:无掩膜光刻,中国团队发布新决策)

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中国科学本事大学Sun Haiding磨真金不怕火团队研发出垂直集成微标准发光二极管(micro-LED)阵列,并初度应用于深紫外(DUV)无掩模光刻系统。该项商议后果发表在《激光与光子学批驳》上。

光刻本事在集成电路芯片制造中进展着至关进攻的作用,是半导体和微电子工业的要道中枢本事之一。自20世纪90年代以来,低资本、高辞别率无掩模光刻系统成为先进光刻本事商议的热门。然而,该项前沿本事的专利主要掌执在欧洲、好意思国、日本和韩国手中,本事壁垒较高。

在此布景下,孙磨真金不怕火指挥的iGaN团队多年来对深紫外微LED进行了潜入商议,转变性地提议了以深紫外微LED阵列为光源的无掩模光刻系统。

他们系统地蓄意和优化了深紫外袖珍 LED 的外延结构、器件尺寸、侧壁笼统和几何样子,大大擢升了其功率效劳、调制带宽以及在紫外光检测、成像和传感方面的多功能性。在此基础上,该团队到手修复了基于这些深紫外袖珍 LED 的阵列系统。

在本项责任中,该团队进一步提议并制作了一种深紫外表示集成芯片,充分哄骗了深紫外微LED超小尺寸和超高亮度的上风,提议了一种三维垂直集成器件架构,其中AlGaN基深紫外微LED阵列与氧化锌(ZnO)基光电探伤器(PD)通过透明蓝坚持衬底并列。

在这种架构下,从 DUV 袖珍 LED 阵列辐照的紫外光子不错穿透透明蓝坚持基板,并被基板后头的 PD 拿获,从而摈弃高效的光信号传输。

此外,团队还基于垂直集成器件修复了闭环反映松手的自矫健发光系统,该系统不仅不错监测Micro-LED阵列输出光强的波动,还不错提供连接的反映,以保证输出功率的矫健。

测试摈弃标明,具有自矫健系统的安装能保持较高的光强和长久矫健性,而无反映系统的安装光强跟着时刻的推移逐步着落。

哄骗该反映系统,该团队演示了像素密度高达 564 像素/英寸 (PPI) 的 DUV 袖珍 LED 阵列,并在无掩模 DUV 光刻后到手在硅片上表示出昭彰的图案,标明高辞别率光刻本事具有后劲。这是基于 DUV 袖珍 LED 有源矩阵的 DUV 无掩模光刻的初度演示。

该商议修复了一种新式深紫外袖珍LED阵列与PD会聚首的集成器件,为改日无掩模光刻系统展示了遍及的应用远景,也为改日发展高集成、多功能的三维光电集成系统奠定了基础。

下一阶段,团队将用功于进一步消弱单个Micro-LED和PD的尺寸,从而擢升单元面积阵列的密度和集成度,并优化单个器件的性能和大晶圆的均匀性,为无掩模光刻本事的更高精度奠定基础。

https://phys.org/news/2024-10-deep-ultraviolet-micro-array-advances.html

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